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仁科辰夫教授　最終講義　２０２３．３．１７　米沢キャンパス中示Ａ
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説明
探針。測定のさきっぽ。オシロスコープの接続端子。形状センサーのしこまれているさきっぽ。固体表面の機器分析に使われる入射粒子や入射光。電子ビーム、Ｘ線、紫外線などがよく使われます。表面から反射してくる二次粒子（電子、イオン、Ｘ線、光線）を分析します。

電気化学測定法（目次）1)
(1) 電気化学測定法（目次）
藤嶋昭, 相澤益男, 井上徹著, 電気化学測定法, 技報堂出版, (1984).